东芯股份取得半导体存储装置及其测试方法专利提高了芯片面积利用率和测试效率

东芯股份取得半导体存储装置及其测试方法专利，提高了芯片面积利用率和测试效率

金融界2024年8月14日消息，天眼查知识产权信息显示，东芯半导体股份有限公司取得一项名为“半导体存储装置及其测试方法“，东芯股份取得半导体存储装置及其测试方法专利，提高了芯片面积利用率和测试效率授权公告号CN112582017B，申请日期为2020年12月。专利摘要显示，本发明涉及一种半导体存储装置及其测试方法，该半导体存储装置包括：存储单元阵列，所述存储单元阵列中包括多个存储单元，所述多个存储单元被划分为多个页，每个页中的多个存储单元与同一字线相连接；页缓存阵列，通过位线与所述存储单元阵列相连接，所述页缓存阵列...